Análisis de error relativo en modelos muestreados aproximados
Tipo de material: TextoDetalles de publicación: Valparaíso : UTFSM, 2011Descripción: vii, 64 h. : ilClasificación CDD: M ELO Y947 2011 Nota de disertación: Tesis ( Ing. Civil Electrónico)--(Magíster en Ciencias de la INg. Electrónica) -- Prof. Guía: Juan Yuz ; prof. corref.: Eduardo Silva Resumen: Resumen extenso, ver multimedia o impresoTipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | número de clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras |
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Memorias | Biblioteca Central | Memorias | M ELO Y947 2011 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 3560900213646 | |
Memoria Recurso Digital | Biblioteca Central | Memorias | M ELO Y947 2011 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 2 | Disponible | 3560900213643 |
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Tesis ( Ing. Civil Electrónico)--(Magíster en Ciencias de la INg. Electrónica) -- Prof. Guía: Juan Yuz ; prof. corref.: Eduardo Silva
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