Análisis de error relativo en modelos muestreados aproximados

Por: Yucra Arias, Eduardo AndrésColaborador(es): Yuz Eissmann, Juan Ignacio (comisión de tesis) [, prof. guía] | Silva Vera, Eduardo (comisión de tesis) [, prof. corref.] | UTFSM. Departamento de Electrónica (1994-) | UTFSM. Dirección General de Investigación y Postgrado. Programas de MagísterTipo de material: TextoTextoDetalles de publicación: Valparaíso : UTFSM, 2011Descripción: vii, 64 h. : ilClasificación CDD: M ELO Y947 2011 Nota de disertación: Tesis ( Ing. Civil Electrónico)--(Magíster en Ciencias de la INg. Electrónica) -- Prof. Guía: Juan Yuz ; prof. corref.: Eduardo Silva Resumen: Resumen extenso, ver multimedia o impreso
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Tesis ( Ing. Civil Electrónico)--(Magíster en Ciencias de la INg. Electrónica) -- Prof. Guía: Juan Yuz ; prof. corref.: Eduardo Silva

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