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Aplicación del microscopio electrónico de barrido en metalografía Rodrigo Carvajal Muñoz por Carvajal Muñoz, Rodrigo | Von Brand Kuhlmann, Max (Comisión de tesis) [, prof. guía] | UTFSM. Facultad de Química ( - 1979). Tipo de material:  Texto; Formato:
impreso Detalles de publicación: Valparaíso : UTFSM, 1979Nota de disertación: Tesis (Ing. Ejec. Metalúrgico) -- Prof. guía: Max von Brand Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Central (1) Signatura topográfica: M 669.950282 C331.
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De las gafas al microscopio electrónico por Weising, Fred. Tipo de material: Texto; Formato:
impreso ; Forma literaria:
No es ficción Detalles de publicación: Barcelona : Manuel Marín y Cía., 1957Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Central (1) Signatura topográfica: 535.332 W427.
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Electorn microprobe analysis por Reed, S. J. B. Series Cambridge monographs on physicsTipo de material: Texto; Formato:
impreso Detalles de publicación: Cambridge : University Press, 1975Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Central (1) Signatura topográfica: 535.3325 R326.
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Electron microfractography por Symposium on Electron Microfractography (1968 : San Francisco) | American Society for Testing Materials. Series ASTM Special Technical Publication ; ; no. 453Tipo de material: Texto; Formato:
impreso ; Forma literaria:
No es ficción Detalles de publicación: Philadelphia : ASTM, 1969Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Central (1) Signatura topográfica: 535.3325 S989.
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Electron microscopy and analysis por Goodhew, P. J. Series The Wykeham science series ; ; v. 33Tipo de material: Texto; Forma literaria:
No es ficción Detalles de publicación: London : Wykeham Publications, 1975Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Central (1) Signatura topográfica: 535.3325 G652.
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Electron microscopy and micranalysis of metals por Belk, J. A. Tipo de material: Texto; Formato:
impreso Detalles de publicación: Amsterdam : Elsevier Publishing, 1968Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Central (1) Signatura topográfica: 669.9 B430.
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Electron microscopy of nanotubes por Wang, Zhong Lin | Hui, Chun. Tipo de material: Texto; Formato:
impreso Detalles de publicación: Boston : Kluwer Academic Publishers, 2003Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Física (2) Signatura topográfica: 620.11 E38 FIS, ...
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Electron microscopy of thin crystals por Hirsch, Peter Bernhard. Tipo de material: Texto; Forma literaria:
No es ficción Detalles de publicación: London : Butterworths, 1965Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Central (1) Signatura topográfica: 548.9 H669.
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Electron microscopy, Technique and applications por Wyckoff, Ralph Walter Graystone. Tipo de material: Texto; Forma literaria:
No es ficción Detalles de publicación: New York : Interscience Publishers, 1949Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Central (1) Signatura topográfica: 578.1 W977.
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Electron optics and electron microscopy por Hawkes, P. W. Tipo de material: Texto; Forma literaria:
No es ficción Detalles de publicación: London : Taylor & Francis, 1972Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Central (1) Signatura topográfica: 535.3325 H392.
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Introduction to electron microscopy por Wischnitzer, Saul. Edición: 2nd ed.Tipo de material: Texto; Formato:
impreso ; Forma literaria:
No es ficción Detalles de publicación: New York : Pergamon Press, 1970Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Central (1) Signatura topográfica: 535.3325 W811.
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Microscopía electrónica por Hall, Cecil E. Tipo de material: Texto; Formato:
impreso Detalles de publicación: Bilbao : Ediciones Urmo, 1970Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Central (1) Signatura topográfica: 535.3325 H174C.
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Mocroscopía electrónica de aluminio puro laminado en frío por Rodríguez, Gabriel. Tipo de material: Texto; Forma literaria:
No es ficción Detalles de publicación: s.l. : s.n., 1965Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Central (1) Signatura topográfica: 669.722 R696.
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Modern development in electron microscopy por Siegel, Benjamin M. Tipo de material: Texto; Formato:
impreso Detalles de publicación: New York : Academic Press, 1964Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Central (1) Signatura topográfica: 535.3325 S571.
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Practical electron microscopy por Cosslett Vernon, Ellis. Tipo de material: Texto; Formato:
impreso ; Forma literaria:
No es ficción Detalles de publicación: London : Butterworths Scientific Publications, 1951Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Central (1) Signatura topográfica: 535.3325 C834P.
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Quantitative scanning electron microscopy por Holt, D. B. Tipo de material: Texto; Formato:
impreso ; Forma literaria:
No es ficción Detalles de publicación: London : Academic Press, 1974Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Central (1) Signatura topográfica: 535.3325 H758.
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Scanning electron microscope : proceedings por Annual Scanning Electron Microscope Symposium (3rd. 1970 : Chicago) | IIT Research Institute. Tipo de material: Texto; Formato:
impreso ; Forma literaria:
No es ficción Detalles de publicación: Chicago : IIT Research Institute, 1970Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Central (1) Signatura topográfica: 535.3325 A615.
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Scanning electron microscopy por Wells, Oliver C. Tipo de material: Texto; Forma literaria:
No es ficción Detalles de publicación: New York : McGraw-Hill, 1974Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Central (1) Signatura topográfica: 535.3325 W456.
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The use the scanning electron microscope por Hearle, J. W. S | Sparrow, J. T. Tipo de material: Texto; Formato:
impreso Detalles de publicación: Oxford : Pergamon Press, 1972Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Central (1) Signatura topográfica: 535.3325 H435.
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