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Reliability design handbook

por Anderson, R. T.

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: Chicago, Il. : IIT Research Institute, 1976Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Central (1) Signatura topográfica: 629.1341 A549.

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Scanning electron microscope : proceedings

por Annual Scanning Electron Microscope Symposium (3rd. 1970 : Chicago) | IIT Research Institute.

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: Chicago : IIT Research Institute, 1970Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Central (1) Signatura topográfica: 535.3325 A615.

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