Statistical analysis of reliability and life-testing models : theory and methods / Lee J. Bain, Max Engelhardt.
Tipo de material:![Texto](/opac-tmpl/lib/famfamfam/BK.png)
Contenidos:
1.- Probabilistic models -- 2.- Basic statistical inference -- 3.- The exponential distribution -- 4.- The weibull distribution -- 5.- The gamma distribution -- 6.- Extreme-value distributions -- 7.- The logostic and other distributions -- 8.- Goodness of fit tests -- 9.- Reparable systems.-
Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | número de clasificación | Copia número | Estado | Notas | Fecha de vencimiento | Código de barras |
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Biblioteca Sede Concepción | Colección General | 620.00452 B162 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | Asignatura: Ingeniería de Confiabilidad I | 3560901551137 | |
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Biblioteca Sede Concepción | Colección General | 620.00452 B162 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 2 | Disponible | Asignatura: Ingeniería de Confiabilidad I | 3560901551138 |
1.- Probabilistic models -- 2.- Basic statistical inference -- 3.- The exponential distribution -- 4.- The weibull distribution -- 5.- The gamma distribution -- 6.- Extreme-value distributions -- 7.- The logostic and other distributions -- 8.- Goodness of fit tests -- 9.- Reparable systems.-
COBERTURA BIBLIOGRAFICA:
ICO010 (Ingeniería en Mantenimiento Industrial)
Asignatura: Ingeniería de Confiabilidad I
Última actualización 22 de diciembre 2021